外観検査アルゴリズムコンテスト2009

精密工学会 画像応用技術専門委員会
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西暦 課題 最優秀賞(敬称略) 優秀賞(敬称略)
1 2001 ガラスのマーク検査 斎藤孝信(アートロジック) 大音仁昭(旭硝子)
中村奈津子(日本電子)
2 2002 低解像度での欠陥検査 若村直弘(中央大) 柳沼芳隆(三菱原子燃料)
上松智子,青木義満(芝浦工大)
3 2003 複雑背景下での欠陥検査 鈴木輝基(ルミネ),黒宮明(名古屋市工業研究所) 柳沼芳隆(三菱原子燃料)
藤枝紫朗(オムロン)
4 2004 周期性ノイズ下での低コントラスト欠陥検査 藪中智也,浜田徳亜(住友電工) 柳沼芳隆(三菱原子燃料)
野村安國,山口新,森野比佐夫(ファースト)
5 2005 不特定形状の傷の検査 藤枝紫朗(オムロン) 前澤充,小楠洋,伴和宏(テクノシステム)
野村安國,山口新,森野比佐夫(ファースト)
6 2006 ランダムパターン上の顕著な欠陥の検出 横山正高,岸村正嗣(住友電工) 岡部良二,加茂勝己,早川明夫(日本電子システムテクノロジー)
王鄭耀,寧兆彬,施俊(法視特(上海)画像科技有限公司),馬 嶺(ファースト)
7 2007 半導体パターン上のマクロ欠陥の検出 王鄭耀,寧兆彬,施俊(法視特(上海)画像科技有限公司),馬 嶺(ファースト) 藤枝紫朗(オムロン)
黒石博信,木村友紀(旭硝子)
小林修(かんでんエンジニアリング)
学生奨励賞 田中健介(静岡大)
8 2008 半導体パターン上の欠陥分類 王鄭耀,鞠正(法視特(上海)画像科技),姚俊(ファースト) 江島由華(徳島大)
木村友紀(旭硝子)
特別賞 菅野純一(ヴィスコ・テクノロジーズ)
学生奨励賞 宮崎裕史,久森隆史(静岡大)
9 2009 密集する不定形状な泡の計数 菅野純一(ヴィスコ・テクノロジーズ) 東川吉造,市村研吾,藤枝紫朗(オムロン)
山下貴史,有川徹,大橋剛介(静岡大)
特別賞 該当なし
学生奨励賞 福本洋平(佐世保高専)
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