外観検査アルゴリズムコンテスト2010

主催:精密工学会 画像応用技術専門委員会
共催:文部科学省科学研究費補助金新学術領域研究 細胞内ロジスティクス
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画像応用技術専門委員会では,画像を用いた外観検査技術の発展を図るため, 研究者・技術者が共通で使える外観検査画像データベースの構築を進めつつ, その一環として外観検査アルゴリズムコンテストを2001年より実施しております.

お陰様で実際の製造現場で生じる画像をそのまま使用した他に例を見ない ユニークなコンテストとして広く認知されるようになり, 毎年,参加者数が増え,ついに昨年は参加者数が100名目前となりました. 今年は,ちょうど10回目という記念の年となりましたので, 新しい分野の開拓を目指し,細胞内ロジスティクスとの共催で, 細胞内の粒子の動きを計測する「変形する密集粒子の追跡」アルゴリズムのコンテストを実施します.

優秀作品は12月開催のビジョン技術の実利用ワークショップ(ViEW2010)で表彰致します. また同時に成績が良く,ユニークなアルゴリズムを細胞内ロジスティクスより表彰します. 検査画像と詳しい応募要領は6月末にwebsiteで公開致します.皆様の挑戦をお待ち致しております.

まずは, 2010年7月30日(金) までにエントリーをお済ませ下さい. 作品提出は2010年10月1日(金)までとなっております. 皆様の挑戦をお待ち致しております.

課題 ⇒( 詳細はこちら )
変形しながら移動する粒子

変形する密集粒子の追跡
 検査対象:細胞内の粒子
 検査目的:変形しながら移動する粒子の追跡
 評価項目:粒子追跡の正解率と処理時間
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