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アルゴリズムコンテストの概要
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pdf版はこちら ⇒
( pdf )
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画像応用技術専門委員会では，画像を用いた外観検査技術の発展を図るため，
研究者・技術者が共通で使える外観検査画像データベースの構築を進めつつ，
その一環として外観検査アルゴリズムコンテストを2001年より実施しております．
お陰様で実際の製造現場で生じる画像をそのまま使用した他に例を見ない
ユニークなコンテストとして広く認知されるようになり，
毎年，参加者数が増え,ついに昨年は参加者数が100名を超えました．
今年は，昨年度に引き続き，細胞内ロジスティクスとの共催で，
「細胞内の粒子の検出とクラスタリング」アルゴリズムのコンテストを実施します．
優秀作品は12月開催のビジョン技術の実利用ワークショップ(ViEW2011)で表彰致します．
また同時に成績が良く，ユニークなアルゴリズムを細胞内ロジスティクスより表彰します．
検査画像と詳しい応募要領は6月末にwebsiteで公開致します．皆様の挑戦をお待ち致しております．
まずは，
2011年8月5日(金)
までにエントリーをお済ませ下さい．
作品提出は2011年9月30日(金)までとなっております．
皆様の挑戦をお待ち致しております．
| 課題
⇒( 詳細はこちら ) |
細胞内粒子 |
細胞内粒子の検出とクラスタリング |
| 検査対象：細胞内の粒子 |
| 検査目的：各粒子を細胞ごとに仕分けし，位置と半径を求める |
| 評価項目：検出とクラスタリングの正解率と処理時間 |
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