外観検査アルゴリズムコンテスト2012

主催:精密工学会 画像応用技術専門委員会
共催:文部科学省科学研究費補助金新学術領域研究 細胞内ロジスティクス
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画像応用技術専門委員会では,画像を用いた外観検査技術の発展を図るため, 研究者・技術者が共通で使える外観検査画像データベースの構築を進めつつ, その一環として外観検査アルゴリズムコンテストを2001年より実施しております.

お陰様で実際の製造現場で生じる画像をそのまま使用した他に例を見ない ユニークなコンテストとして広く認知されるようになり, 毎年,参加者数が増え,ついに昨年は参加者数が150名を超えました. 今年は,昨年度に引き続き,細胞内ロジスティクスとの共催で, 「再生する細胞の領域追跡」アルゴリズムのコンテストを実施します.

優秀作品は12月開催のビジョン技術の実利用ワークショップ(ViEW2012)で表彰致します. また同時に成績が良く,ユニークなアルゴリズムを細胞内ロジスティクスより表彰します. 検査画像と詳しい応募要領は6月末にwebsiteで公開致します.皆様の挑戦をお待ち致しております.

まずは, 2012年8月10日3日(金) までにエントリーをお済ませ下さい. 作品提出は2012年9月28日(金)までとなっております. 皆様の挑戦をお待ち致しております.

課題 ⇒( 詳細はこちら )
再生する細胞

再生する細胞の領域追跡
 検査対象:細胞
 検査目的:細胞の領域を抽出,細胞を追跡する
 評価項目:抽出と追跡の正解率と処理時間
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