回 |
西暦 |
課題 |
最優秀賞(敬称略) |
優秀賞(敬称略) |
1 |
2001 |
ガラスのマーク検査 |
斎藤孝信(アートロジック) |
大音仁昭(旭硝子) 中村奈津子(日本電子) |
2 |
2002 |
低解像度での欠陥検査 |
若村直弘(中央大) |
柳沼芳隆(三菱原子燃料) 上松智子,青木義満(芝浦工大) |
3 |
2003 |
複雑背景下での欠陥検査 |
鈴木輝基(ルミネ),黒宮明(名古屋市工業研究所) |
柳沼芳隆(三菱原子燃料) 藤枝紫朗(オムロン) |
4 |
2004 |
周期性ノイズ下での低コントラスト欠陥検査 |
藪中智也,浜田徳亜(住友電工) |
柳沼芳隆(三菱原子燃料) 野村安國,山口新,森野比佐夫(ファースト) |
5 |
2005 |
不特定形状の傷の検査 |
藤枝紫朗(オムロン) |
前澤充,小楠洋,伴和宏(テクノシステム)
野村安國,山口新,森野比佐夫(ファースト) |
6 |
2006 |
ランダムパターン上の顕著な欠陥の検出 |
横山正高,岸村正嗣(住友電工) |
岡部良二,加茂勝己,早川明夫(日本電子システムテクノロジー)
王鄭耀,寧兆彬,施俊(法視特(上海)画像科技有限公司),馬 嶺(ファースト) |
7 |
2007 |
半導体パターン上のマクロ欠陥の検出 |
王鄭耀,寧兆彬,施俊(法視特(上海)画像科技有限公司),馬 嶺(ファースト) |
藤枝紫朗(オムロン)
黒石博信,木村友紀(旭硝子)
小林修(かんでんエンジニアリング) |
学生奨励賞 田中健介(静岡大) |
8 |
2008 |
半導体パターン上の欠陥分類 |
王鄭耀,鞠正(法視特(上海)画像科技),姚俊(ファースト) |
江島由華(徳島大) 木村友紀(旭硝子) |
特別賞 菅野純一(ヴィスコ・テクノロジーズ) |
学生奨励賞 宮崎裕史,久森隆史(静岡大) |
9 |
2009 |
密集する不定形状な泡の計数 |
菅野純一(ヴィスコ・テクノロジーズ) |
東川吉造,市村研吾,藤枝紫朗(オムロン) 山下貴史,有川徹,大橋剛介(静岡大) |
特別賞 該当なし |
学生奨励賞 福本洋平(佐世保高専) |
10 |
2010 |
変形する密集粒子の追跡 |
伊藤大輔(徳島大) |
菅野純一(ヴィスコ・テクノロジーズ) 内野亮,吉野大空,小林央(東レ) |
学生奨励賞 山下聡(徳島大) |
ロジ大賞 内野亮,吉野大空,小林央(東レ) ロジ賞 菅野純一(ヴィスコ・テクノロジーズ) ロジ賞 河合涼,入野裕章,川口亮,柏谷俊輔,森野比佐夫,山口新(ファースト) |
11 |
2011 |
細胞内粒子の検出とクラスタリング |
熊谷佳紀,大橋剛介(静岡大) |
Shiro Fujieda(OMRON Europe) 河合涼,入野裕章,柳井隼知(ファースト) |
学生奨励賞 栗田直人(静岡大) |
ロジ大賞 栗田直人,熊谷佳紀,大橋剛介(静岡大) ロジ賞 Shiro Fujieda(OMRON Europe) ロジ賞 大久保憲治,坪井辰彦,小林央,大美英一,久世康之,中根隆雄(東レエンジニアリング) |
12 |
2012 |
再生する細胞の領域追跡 |
栗田直人,大橋剛介(静岡大) |
Shiro Fujieda(OMRON Europe) 菅野純一(ヴィスコ・テクノロジーズ) |
学生奨励賞 服部宏祐(徳島大) |
ロジ大賞 栗田直人,大橋剛介(静岡大) ロジ賞 Shiro Fujieda(OMRON Europe) ロジ賞 菅野純一(ヴィスコ・テクノロジーズ) ロジ賞 永田毅(みずほ情報総研,筑波大),松崎和敏(みずほ情報総研) |
13 |
2013 |
鋳造部品の欠陥検出 |
永田毅,友澤弘充,水谷麻紀子,松崎和敏,佐野碧(みずほ情報総研)
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菅野純一(ヴィスコ・テクノロジーズ) 細島侑(ヴィスコ・テクノロジーズ) |
特別賞 山口新(ヴィスコ・テクノロジーズ) |
学生奨励賞 高科勇太(徳島大) |
14 |
2014 |
鋳造部品の表面を連続的に撮影した画像系列からの欠陥検出 |
永田毅,水谷麻紀子,友澤弘充,二田晴彦,
松崎和敏,佐野碧,萩原透,檜作彰良(みずほ情報総研)
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山口新(ヴィスコ・テクノロジーズ)
笠原亮介,田中拓哉,澤木太郎,山田佑(リコー)
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特別賞 菅野純一(ヴィスコ・テクノロジーズ) |
学生奨励賞 山崎有作(徳島大) |
15 |
2015 |
鋳造部品の良品サンプル画像からの欠陥検出 |
藤枝紫朗(オムロン)
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田中拓哉,笠原亮介,澤木太郎(リコー)
尾ア美香,河村一,能城博(ライトストーン)
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特別賞 水谷麻紀子,永田毅,友澤弘充,佐野碧,萩原透,檜作彰良,橋本大樹,森悠史(みずほ情報総研) |
学生奨励賞 村上友治(徳島大) |