外観検査アルゴリズムコンテスト2015
主催:精密工学会 画像応用技術専門委員会
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テーマ募集中
来年度以降の課題および課題画像を募集しております.
もし何かありましたら,
画像応用技術専門委員会 外観検査アルゴリズムコンテスト2015実行委員会
(
E-mail:iaip@adcom-media.co.jp) までご連絡下さい.
現在検討中の課題候補
◎ 動画像ベースの検査(長尺対象物体の検査など)
◎ カラー画像による欠陥検出・分類
◎ 3次元的な欠陥検出
◎ 多数物体の一括検査
◎ 印刷物の検査
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