外観検査アルゴリズムコンテスト2015
主催:精密工学会 画像応用技術専門委員会
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内容
レ
2015.03.06(金)
DIA2015において2015年度のテーマ発表
レ
2015.03.06(金)
ホームページ運用開始
レ
2015.03.06(金)
CFPを実行委員,画像応用技術専門委員会運営委員,個人会員,法人会員に配布
レ
2015.06.26(金)
実施要領詳細,テスト用画像公開
レ
2015.08.07(金)
エントリー受付の締め切り
レ
2015.09.25(金)
プログラム,動作説明書の締め切り
レ
2015.10.23(金)
予稿受付の締め切り(ViEW2015の原稿締切と同じ)
レ
2015.12.03(木)
ViEW2015において結果発表,優秀作品口頭講演
2015.12.04(金)
ViEW2015において優秀作品インタラクティブ講演
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