外観検査アルゴリズムコンテスト2016

主催:精密工学会 画像応用技術専門委員会
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西暦 課題 最優秀賞(敬称略) 優秀賞(敬称略)
1 2001 ガラスのマーク検査 斎藤孝信(アートロジック) 大音仁昭(旭硝子)
中村奈津子(日本電子)
2 2002 低解像度での欠陥検査 若村直弘(中央大) 柳沼芳隆(三菱原子燃料)
上松智子,青木義満(芝浦工大)
3 2003 複雑背景下での欠陥検査 鈴木輝基(ルミネ),黒宮明(名古屋市工業研究所) 柳沼芳隆(三菱原子燃料)
藤枝紫朗(オムロン)
4 2004 周期性ノイズ下での低コントラスト欠陥検査 藪中智也,浜田徳亜(住友電工) 柳沼芳隆(三菱原子燃料)
野村安國,山口新,森野比佐夫(ファースト)
5 2005 不特定形状の傷の検査 藤枝紫朗(オムロン) 前澤充,小楠洋,伴和宏(テクノシステム)
野村安國,山口新,森野比佐夫(ファースト)
6 2006 ランダムパターン上の顕著な欠陥の検出 横山正高,岸村正嗣(住友電工) 岡部良二,加茂勝己,早川明夫(日本電子システムテクノロジー)
王鄭耀,寧兆彬,施俊(法視特(上海)画像科技有限公司),馬 嶺(ファースト)
7 2007 半導体パターン上のマクロ欠陥の検出 王鄭耀,寧兆彬,施俊(法視特(上海)画像科技有限公司),馬 嶺(ファースト) 藤枝紫朗(オムロン)
黒石博信,木村友紀(旭硝子)
小林修(かんでんエンジニアリング)
学生奨励賞 田中健介(静岡大)
8 2008 半導体パターン上の欠陥分類 王鄭耀,鞠正(法視特(上海)画像科技),姚俊(ファースト) 江島由華(徳島大)
木村友紀(旭硝子)
特別賞 菅野純一(ヴィスコ・テクノロジーズ)
学生奨励賞 宮崎裕史,久森隆史(静岡大)
9 2009 密集する不定形状な泡の計数 菅野純一(ヴィスコ・テクノロジーズ) 東川吉造,市村研吾,藤枝紫朗(オムロン)
山下貴史,有川徹,大橋剛介(静岡大)
特別賞 該当なし
学生奨励賞 福本洋平(佐世保高専)
10 2010 変形する密集粒子の追跡 伊藤大輔(徳島大) 菅野純一(ヴィスコ・テクノロジーズ)
内野亮,吉野大空,小林央(東レ)
学生奨励賞 山下聡(徳島大)
ロジ大賞 内野亮,吉野大空,小林央(東レ)
ロジ賞 菅野純一(ヴィスコ・テクノロジーズ)
ロジ賞 河合涼,入野裕章,川口亮,柏谷俊輔,森野比佐夫,山口新(ファースト)
11 2011 細胞内粒子の検出とクラスタリング 熊谷佳紀,大橋剛介(静岡大) Shiro Fujieda(OMRON Europe)
河合涼,入野裕章,柳井隼知(ファースト)
学生奨励賞 栗田直人(静岡大)
ロジ大賞 栗田直人,熊谷佳紀,大橋剛介(静岡大)
ロジ賞 Shiro Fujieda(OMRON Europe)
ロジ賞 大久保憲治,坪井辰彦,小林央,大美英一,久世康之,中根隆雄(東レエンジニアリング)
12 2012 再生する細胞の領域追跡 栗田直人,大橋剛介(静岡大) Shiro Fujieda(OMRON Europe)
菅野純一(ヴィスコ・テクノロジーズ)
学生奨励賞 服部宏祐(徳島大)
ロジ大賞 栗田直人,大橋剛介(静岡大)
ロジ賞 Shiro Fujieda(OMRON Europe)
ロジ賞 菅野純一(ヴィスコ・テクノロジーズ)
ロジ賞 永田毅(みずほ情報総研,筑波大),松崎和敏(みずほ情報総研)
13 2013 鋳造部品の欠陥検出 永田毅,友澤弘充,水谷麻紀子,松崎和敏,佐野碧(みずほ情報総研) 菅野純一(ヴィスコ・テクノロジーズ)
細島侑(ヴィスコ・テクノロジーズ)
特別賞 山口新(ヴィスコ・テクノロジーズ)
学生奨励賞 高科勇太(徳島大)
14 2014 鋳造部品の表面を連続的に撮影した画像系列からの欠陥検出 永田毅,水谷麻紀子,友澤弘充,二田晴彦, 松崎和敏,佐野碧,萩原透,檜作彰良(みずほ情報総研) 山口新(ヴィスコ・テクノロジーズ)
笠原亮介,田中拓哉,澤木太郎,山田佑(リコー)   
特別賞 菅野純一(ヴィスコ・テクノロジーズ)
学生奨励賞 山崎有作(徳島大)
15 2015 鋳造部品の良品サンプル画像からの欠陥検出 藤枝紫朗(オムロン) 田中拓哉,笠原亮介,澤木太郎(リコー)
尾ア美香,河村一,能城博(ライトストーン)
特別賞 水谷麻紀子,永田毅,友澤弘充,佐野碧,萩原透,檜作彰良,橋本大樹,森悠史(みずほ情報総研)
学生奨励賞 村上友治(徳島大)
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