外観検査アルゴリズムコンテスト2017

主催:精密工学会 画像応用技術専門委員会
共催:文部科学省科学研究費補助金新学術領域研究 レゾナンスバイオ
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画像応用技術専門委員会では,画像を用いた外観検査技術の発展を図るため, 研究者・技術者が共通で使える外観検査画像データベースの構築を進めつつ, その一環として外観検査アルゴリズムコンテストを2001年より実施しております.

お陰様で実際の製造現場等で生じる画像をそのまま使用した他に例を見ないユニークなコンテストとして広く認知されるようになり, ここ数年は参加者数が約150名となっております. さて第17回の今回は,昨年度に引き続き細胞内画像処理より「4D画像からの細胞分裂の検出」アルゴリズムのコンテストを実施することになりました.

優秀作品は12月開催のビジョン技術の実利用ワークショップ(ViEW2017)で表彰致します. 検査画像と詳しい応募要領は6月末にwebsiteで公開致します. 皆様の挑戦をお待ち致しております.

まずは, 2017年8月4日(金) までにエントリーをお済ませ下さい. 作品提出は2017年9月29日(金)(予稿は10月20日(金)まで)までとなっております. 皆様の挑戦をお待ち致しております.

課題 ⇒( 詳細はこちら )
4D細胞画像の例
画像データ提供:根本知己教授,一本嶋佐理氏(北海道大)

4D 画像からの細胞分裂の検出
 検査対象:細胞
 検査目的:XYZ-T画像の中から分裂する細胞を検出する.
 
 
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