外観検査アルゴリズムコンテスト2026
主催：精密工学会 画像応用技術専門委員会
主催：一般社団法人 日本非破壊検査協会 情報通信・知能化部門
協力：愛知県農業総合試験場
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- 最優秀賞（1件）：最も点数が高いもの
- 優秀賞（2件）：最優秀賞に準ずる点数のもの
- 学生奨励賞（1件）：学生の中で最も点数が高いもの
- 特別賞（1件）：点数が高い物の中でアルゴリズムが素晴らしいもの
- 賞状は受賞者全員に授与されます
- 最優秀賞に関しては楯が授与されますが，1件に付き1個です．
- ViEW2026 にて受賞講演と表彰式を行ないます．ViEW2026 の参加費が無料になります（1名のみ，旅費，宿泊費は自己負担でお願いします）
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