外観検査アルゴリズムコンテスト2020

主催:精密工学会 画像応用技術専門委員会
共催:国立研究開発法人 理化学研究所 ボクセル情報処理システム研究チーム
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  • 最優秀賞(1件):最も点数が高いもの
  • 優秀賞(2件):最優秀賞に準ずる点数のもの
  • 学生奨励賞(1件):学生の中で最も点数が高いもの
  • 特別賞(1件):点数が高い物の中でアルゴリズムが素晴らしいもの

  • 賞状は受賞者全員に授与されます
  • 最優秀賞に関しては楯が授与されますが,1件に付き1個です.印字する受賞者名は特に申し出がない限り,筆頭者名となります.
  • ViEW2020 にて受賞講演と表彰式を行ないます.ViEW2020 の参加費が無料になります(旅費,宿泊費は自己負担でお願いします)
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